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SGC-1A 椭圆偏振测厚仪

SGC-1A 椭圆偏振测厚仪

- 仪器介绍

  近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛,因此,测得薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中,常常使用椭圆偏振法来进行测量。这种方法测量灵敏度和精度较高,并且是非破坏性测量。他能同时测定薄膜的厚度和折射率。
本产品为手动方式调节仪器,测量薄膜的厚度和光学参数。清晰的展示了椭圆偏振测厚仪的各个部件的结构功能,调节方法,使用户可详细的了解椭圆仪的原理结构,并培养其动手操作能力。

- 基本配置及参数

 
 
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