天津港东科技

LY-1 CCD杨氏模量测量仪

　　LY-1型 CCD杨氏模量测量仪采用显微镜和CCD成像系统。与一般采用目测读数的杨氏模量测量仪相比，实验现象更易观察、读数更精确。

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LY-2 杨氏模量测量仪

· 采用读数显微镜观测
· 通过读数显微镜直接读取数据
· 调节使用方便

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SGC-1A 椭圆偏振测厚仪

　　近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛，因此，测得薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中，常常使用椭圆偏振法来进行测量。这种方法测量灵敏度和精度较高，并且是非破坏性测量。他能同时测定薄膜的厚度和折射率。
本产品为手动方式调节仪器，测量薄膜的厚度和光学参数。清晰的展示了椭圆偏振测厚仪的各个部件的结构功能，调节方法，使用户可详细的了解椭圆仪的原理结构，并培养其动手操作能力。

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SGC-2 自动椭圆偏振测厚仪

椭圆偏振法测量的原理很早就已提出，相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新，使得椭圆偏振法成为重要的测试手段，并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法基本、重要的应用之一 。

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SGC-10 薄膜测厚仪

　　SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。该设备关键部件均为国外进口，也可根据客户需要整机进口。

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