天津港东科技

SGS-10 单丝单缝衍射实验装置

本仪器采用可移动读数的光电探测器来测量光衍射的光强分布，可自由调节半导体激光器的焦点。

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SGW-1A 干涉衍射实验装置

　　本装置将干涉实验和衍射实验集成为一个实验装置，既可以进行光的干涉实验又可以进行光的衍射实验。

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LY-1 CCD杨氏模量测量仪

　　LY-1型 CCD杨氏模量测量仪采用显微镜和CCD成像系统。与一般采用目测读数的杨氏模量测量仪相比，实验现象更易观察、读数更准确。

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LY-2 杨氏模量测量仪

· 采用读数显微镜观测
· 通过读数显微镜直接读取数据
· 调节使用方便

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SGC-1A 椭圆偏振测厚仪

　　近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛，因此，测得薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中，常常使用椭圆偏振法来进行测量。这种方法测量灵敏度和精度较高，并且是非破坏性测量。他能同时测定薄膜的厚度和折射率。
本产品为手动方式调节仪器，测量薄膜的厚度和光学参数。清晰的展示了椭圆偏振测厚仪的各个部件的结构功能，调节方法，使用户可详细的了解椭圆仪的原理结构，并培养其动手操作能力。

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